多光子符合计数系统

多光子符合测量是指利用电子学方法对时间上相关的两个或多个光子到达事件进行计数的测量方法，该方法广泛运用于光学测量测试及量子相关的科研实验领域。当两个光子同时(或相差固定延时)被探测器探测到，则输出一个符合脉冲进行计数，作为现代实验的重要技术手段，符合测量在众多领域内都发挥着必不可少的作用。多光子符合计数系统支持双路符合计数测量，采用低暗计数的硅基单光子探测器作为单光子探测手段，探测结果通过USB接口上传至上位机软件处理，系统操作简单，适用于符合计数的各类科研实验平台。